Samsung cuối cùng đã hoàn thành một cuộc điều tra kéo dài và khắt khe đối với phablet Note 7, sản phẩm mà hãng đã phải ngừng bán vào năm ngoái do pin bị lỗi. Lỗi là do thiết kế sai, gây ra đoản mạch, điện áp quá cao và do đó, gây cháy lithium rất phản ứng.
Để không lặp lại toàn bộ sự việc trong tương lai và không ảnh hưởng đến doanh số bán hàng trong năm nay, hãng phải kỹ lưỡng hơn trong việc kiểm soát pin, điều mà chính Samsung đã xác nhận và giới thiệu hệ thống kiểm soát 8 điểm mới. Điều này sẽ áp dụng cho tất cả các sản phẩm sử dụng hạt lithium.
Điện thoại có pin không vượt qua bài kiểm tra sẽ không bao giờ rời khỏi dây chuyền sản xuất:
Kiểm tra độ bền (nhiệt độ cao, hư hỏng cơ học, sạc nguy hiểm)
Kiểm tra trực quan
Kiểm tra tia X
Kiểm tra sạc và xả
thử nghiệm TVOC (kiểm soát rò rỉ các chất hữu cơ dễ bay hơi)
Kiểm tra bên trong pin (của các mạch của nó, v.v.)
Mô phỏng sử dụng bình thường (thử nghiệm tăng tốc mô phỏng việc sử dụng pin bình thường)
Kiểm tra sự thay đổi đặc tính điện (pin phải có cùng thông số trong toàn bộ quá trình sản xuất)
Ngoài ra, Samsung còn thành lập một ban cố vấn về pin. Trong số các thành viên của nhóm này phần lớn sẽ có các nhà khoa học từ các trường đại học từ Đại học Stanford đến Cambridge và Berkeley.
